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  • 产品名称:美国ic设计高低温气流冲击仪

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简单介绍:
Lab Companion Precision temperature cycling system(准确的高低温气流循环系统) Lab Companion Thermal Test system 能够准确控制热、冷空气,应用在测试元器件、混合电路、模块、PCB和装配。采用独特的双压缩机技术是唯壹可以在20SCFM(9.4 l/s)流量情况下释放-80°C温度的系统。
详情介绍:

Lab Companion Precision temperature cycling system(准确的高低温气流循环系统)
Lab Companion Thermal Test system 
能够准确控制热、冷空气,应用在测试元器件、混合电路、模块、PCB和装配。采用独特的双压缩机技术是唯壹可以在20SCFM9.4 l/s)流量情况下释放-80°C温度的系统。


功能强: 20SCFM的流速下释放-80ºC的温度。

快速性: 10秒中温度实现+230º-65ºC的周期变化。
可靠性采用独特的双压缩机技术,提供****的制冷能力和更长的使用寿命。
压缩性: 比其他同类产品小34%外形尺寸。
便利性: 可分离的彩色触摸屏控制器可使你在远处实现监控、测试。


应用: 
测试components, MCMs, modules, PCBs, assemblies 
用来替代液氮
对设计的验证 
失效分析
高低温冲击 
Thermal fixtures
Tester Handler的温度控制 


Features

Benefits 

20SCFM的流速下释放-80ºC的温度

元器件能快速并持久保持低温状态。

外部热电偶

方便控制和DUT温度监控

可分离的触摸式控制器

远程定位制冷系统可节省空间 

使用标准的off-the-shelf制冷剂

减少停工期,降低维修成本 

• CFC and HCFC free 

周边环境安全性

• RJ45  远程网络接口选配 IEEE488GPIB接口

远程温度控制

完全独立

无需干冰或液氮等外部制冷源


【Lab Companion 美国ic设计高低温气流冲击仪适用范围】

适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMCPCB 电路板IC、光通讯(如收发器transceiver 高低温测试、SFP光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC
特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验


【Lab Companion 美国ic设计高低温气流冲击仪工作原理】
1
、试验机输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验;
2
、可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快。
 
【Lab Companion 美国ic设计高低温气流冲击仪工作模式】
A
2路主空气管输出,由分布头分为8路供气,带21系统
B) 2
种检测模式 Air Mode DUT Mode
测试和循环于高温/常温/低温(或者不要常温)
【Lab Companion 美国ic设计高低温气流冲击仪主要技术参数】
1. 
样品盒尺寸:大小可选
2. 
制冷方式:采用风冷式HFC环保制冷剂复叠系统,温度可达-80
3. 噪音:≤65dBA声级)
4. 
条件:风冷式环境温度在+23℃时
5. 
温度控制范围:-80℃~+250
6. 冲击温度范围:-60℃~+200
7. 温度转换时间:≤10
8. 
温度偏差:测试品恒定在-40℃时,温度偏差为±1
9. 冲击气流量:2.2~8.4L/s(分为8路,每路0.23~1.06
L/s
)连续气流
10. 
温变速率降:RT+10℃降至-80℃≤60s
11. 试品表面温度:RT+10℃降至-80℃约1分钟试品表面温度达到,气体温度与样品温度可选择测控
12. 
控制系统:采用进口智能PLC触摸屏控制,7寸彩色屏
13. 
试品:带21系统,金属封装PCB板模块8片;
14. 
前端空气经干燥过滤器处理,产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜。
15. 
外形尺寸:宽700×1040×900mm)以实物为准
16. 
使用电源:AC  220V 50/60HZ

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